Dispositivos semicondutores – Métodos de ensaios mecânicos e climáticos - Parte 1: Generalidades
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Objetivo da Norma


Esta parte da NBRIEC60749 é aplicável aos dispositivos semicondutores (componentes discretos e circuitos integrados) e define disposições comuns a todas as outras partes da série.

Título em inglês

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General

Comitê

ELETRICIDADE

Número de páginas

3 páginas

Histórico

11/2016 - Publicada confirmação
02/2010 - Publicada edição

Complementares

IEC 60050 (todas as partes)
IEC 60747 (todas as partes)
IEC 60748 (todas as partes)