*Trata-se de uma campanha promocional que permite a visualização de uma norma, a qual está sendo pesquisada, somente uma vez, mediante cadastro e validação de e-mail, que será usado para fins de divulgação de produtos e serviços Target. O usuário beneficiário dessa campanha promocional declara estar ciente dessas condições, dos nossos Termos e Condições de Uso e Política de Privacidade.
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O ensaio de resistência à umidade acelerada sem polarização é realizado para avaliar a resistência à umidade dos dispositivos de estado sólido com encapsulamento não hermético, usando umidade condensada ou ambiente úmido com vapor saturado. Este é um ensaio altamente acelerado, o qual impõe condições de pressão, umidade e temperatura sob condições de condensação que condicionam para acelerar a penetração da umidade através do material de proteção externo (encapsulamento ou selo) ou ao longo da interface entre o material de proteção externa e o condutor metálico passante. Este ensaio é usado para identifi car mecanismos de falhas internas ao encapsulamento e é destrutivo.
Título em inglês
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 33: Accelerated moisture resistance - Unbiased autoclave
Comitê
Número de páginas
4 páginas
Palavras-chave
| 02/2022 | Publicada confirmação | |
| 11/2016 | Publicada confirmação | |
| 01/2011 | Publicada edição |
| IEC 60749-33 Ed. 1.0 b |
| IEC 60749-24 Ed. 1.0 b |